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# 可见法线采样
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图形学微表面理论Microfacet Theory微表面理论把小于像素的微几何建模为大量平坦微面元，用法线分布函数 (NDF) D(\mathbf{m}) 描述其朝向统计，用遮蔽函数 G1 和遮蔽-阴影函数 G2 描述可见性，并据此推导宏观 BRDF。镜面反射时每个微面元是完美菲涅耳镜，积分退化为在半向量处求值，得到 FG2D/(4|\mathbf{n}\cdot\mathbf{l}||\mathbf{n}\cdot\mathbf{v}|)。GGX 分布配合高度相关的 Smith G2 是当今影视和游戏最常用的组合；该框架忽略微面元间的多次反射，可用补偿项弥补。本页对应 RTR4 9.6–9.8 节。图形学测量 BRDF 与数据驱动反射模型Measured BRDFs & Data-Driven Reflectance测量 BRDF 用实验室测得的真实材质数据代替解析模型，适合虹彩漆、织物、珠光膜等解析模型拟合不好的材质。难点是四维 BRDF 的维数灾难；PBRT 4e 的 MeasuredBxDF（Dupuy 与 Jakob 2018）把可见法线采样当作参数化，只需较稀疏的测量就能插值。本页对应 PBRT 4e 9.8 节及其延伸阅读。